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三丰Mitutoyo影像仪非接触 3D 测量系统

简要描述：三丰Mitutoyo影像仪非接触 3D 测量系统 Hyper QVWLI
● Hyper QVWLI 是 QV 配备白光干涉仪的复合型高精度 3D 测量系统。
● 可根据 WLI 光学系统获取的 3D 数据进行三维表面形状分析 / 三维粗糙度分析。
还可根据 3D 数据，进行高度的尺寸测量和截面形状测量。

产品型号：Hyper QVWLI
厂商性质：代理商
更新时间：2024-01-17
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影像测量机Mitutoyo

CNC 影像测量机自动影像测量机

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详细介绍

品牌	MITUTOYO/日本三丰	价格区间	10万-50万
产地类别	进口	应用领域	能源,电子,汽车

三丰Mitutoyo影像仪非接触 3D 测量系统 Hyper QVWLI

● Hyper QVWLI 是 QV 配备白光干涉仪的复合型高精度 3D 测量系统。

● 可根据 WLI 光学系统获取的 3D 数据进行三维表面形状分析 / 三维粗糙度分析。还可根据 3D 数据，进行高度的尺寸测量和截面形状测量。

三丰Mitutoyo影像仪非接触 3D 测量系统 Hyper QVWLI

规格

型号项目		Hyper QVWLI 302	Hyper QVWLI 404	Hyper QVWLI 606
测量范围 ( X × Y × Z )	影像测量	300 × 200 × 190 mm	400 × 400 × 240 mm	600 × 650 × 220 mm
	WLI 测量 * 1	215 × 200 × 190 mm	315 × 400 × 240 mm	515 × 650 × 220 mm
WLI 光学测头装置
视场 ( H × V )		5X 镜头 : 约 0.64 × 0.48 mm/10X 镜头 : 约 0.32 × 0.24 mm/ 25X 镜头 : 约 0.13 × 0.10 mm/50X 镜头 : 约 0.064 × 0.048 mm
Z 轴重复性		2 σ≤ 0.08 µm
影像光学测头装置
观察装置		程控电动转塔 1X-2X-6X
图像传感器		B&W CCD ( 1/2 吋 )
影像测量精度 * 2	E 1X /E 1Y	( 0.8+2L/1000 ) µm
	E 1Z	( 1.5+2L/1000 ) µm
	E 2XY	( 1.4+3L/1000 ) µm

*1 WLI 光学测头的可移动范围。

*2: 按照本公司检查方法。 L 为任意 2 点间的尺寸 ( mm ) 。

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