您好!欢迎访问福建精析仪器有限公司网站!
全国服务咨询热线:

15860798281

当前位置:首页 > 产品中心 > 影像测量机Mitutoyo > CNC 影像测量机 > Hyper QVWLI三丰Mitutoyo影像仪 非接触 3D 测量系统

三丰Mitutoyo影像仪 非接触 3D 测量系统

简要描述:三丰Mitutoyo影像仪 非接触 3D 测量系统 Hyper QVWLI
● Hyper QVWLI 是 QV 配备白光干涉仪的复合型高精度 3D 测量系统。
● 可根据 WLI 光学系统获取的 3D 数据进行三维表面形状分析 / 三维粗糙度分析。
还可根据 3D 数据,进行高度的尺寸测量和截面形状测量。

  • 产品型号:Hyper QVWLI
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2022-10-24
  • 访  问  量:155

相关文章

Related Articles

详细介绍

品牌MITUTOYO/日本三丰价格区间面议
产地类别进口应用领域电子,综合

三丰Mitutoyo影像仪 非接触 3D 测量系统 Hyper QVWLI

● Hyper QVWLI 是 QV 配备白光干涉仪的复合型高精度 3D 测量系统。

● 可根据 WLI 光学系统获取的 3D 数据进行三维表面形状分析 / 三维粗糙度分析。还可根据 3D 数据,进行高度的尺寸测量和截面形状测量。

三丰Mitutoyo影像仪 非接触 3D 测量系统 Hyper QVWLI

规格

型号

项目

Hyper QVWLI 302Hyper QVWLI 404Hyper QVWLI 606

测量范围

( X × Y × Z )

影像测量300 × 200 × 190 mm400 × 400 × 240 mm600 × 650 × 220 mm
WLI 测量 * 1215 × 200 × 190 mm315 × 400 × 240 mm515 × 650 × 220 mm

WLI 光学测头装置

视场 ( H × V )

5X 镜头 : 约 0.64 × 0.48 mm/10X 镜头 : 约 0.32 × 0.24 mm/

25X 镜头 : 约 0.13 × 0.10 mm/50X 镜头 : 约 0.064 × 0.048 mm

Z 轴重复性2 σ≤ 0.08 µm
影像光学测头装置
观察装置程控电动转塔 1X-2X-6X
图像传感器B&W CCD ( 1/2 吋 )
影像测量

精度 * 2

E 1X /E 1Y( 0.8+2L/1000 ) µm
E 1Z ( 1.5+2L/1000 ) µm
E 2XY( 1.4+3L/1000 ) µm

*1 WLI 光学测头的可移动范围。

*2: 按照本公司检查方法。 L 为任意 2 点间的尺寸 ( mm ) 。

638022236758384413720.jpg



产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
福建精析仪器有限公司
地址:厦门市思明区嘉禾路104号29A
邮箱:lyt@jingxi17.com
传真:86-0592-5137518
关注我们
欢迎您关注我们的微信公众号了解更多信息:
欢迎您关注我们的微信公众号
了解更多信息