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日本三丰525系列表面粗糙度轮廓形状测量机

简要描述：日本三丰525系列表面粗糙度轮廓形状测量机 SV-C4500 CNC
通过更换检出器可实现轮廓形状测量和表面粗糙度的高精度接触式CNC表面粗糙度/轮廓测量系统。

产品型号：SV-C4500 CNC
厂商性质：代理商
更新时间：2026-06-04
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日本三丰Mitutoyo

千分尺测微头内径测量器卡尺/深度尺指示表/杠杆表测长装置接触传感器非接触传感器硬度试验机光学测量仪影像测量机形状测量系统三坐标测量机

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详细介绍

品牌	MITUTOYO/日本三丰	价格区间	100万-200万
产品种类	接触式轮廓仪/粗糙度仪	产地类别	进口
应用领域	电子/电池,道路/轨道/船舶,汽车及零部件,电气

日本三丰525系列表面粗糙度轮廓形状测量机 SV-C4500 CNC

测定范围 X轴(mm) : 200

测定范围 Y轴(mm) : 200

测定范围 Z1轴表面粗糙度(µm) : 800,80,8

测定范围 Z1轴长度形状(mm) : 60（水平状态下±30）

轮廓形状测定和表面粗糙度测定通过更换检测器即可在一台设备上完成的CNC形状复合机种。

日本三丰525系列表面粗糙度轮廓形状测量机 SV-C4500 CNC

主要特点

通过检测器的更换，这台高精度触针式CNC表面粗糙度和轮廓形状测量机可以一台测量表面粗糙度和轮廓形状。

【輪廓形状測定】配备了升级的新检测器（轮廓形状测量专用）。①测量范围扩大了10mm（比以前）。②采用磁性接头安装在臂部安装部，使得臂部更换可以快速进行。③通过与双侧圆弧规的组合，可以实现上下表面的连续测量。④ 测定力从数据处理装置部（FORMTRACEPAK）中指定（5段阶）

【表面粗糙度测量】JIS（2001/1994/1982）、ISO、DIN等各国的规格对应了参数解析。Z1轴检测器的标准设置为测量力0.75mN的类型。

X1・（Y）・Z2轴的最大驱动速度为最大200mm/s，可以实现高速定位，从而实现多截面测量和多工件测量的高吞吐量。

X・Y轴方向的2轴同时控制可以进行倾斜测量。

由于测量区域在Y方向上扩展，因此可以实现多个工件的批量测量。

规格

符号	SV-C4500CNC(Z2轴类型S)	SV-C4500S CNC（带α轴，Z2轴类型S）	SV-C4500CNC(Z2轴类型H)	SV-C4500H CNC（带α轴，Z2轴类型H）
测定范围 X轴(mm)	200	200	200	200
测定范围 Y轴(mm)	200	200	200	200
驱动速度 J/S mode X轴(mm/s)	0～50	0～50	0～50	0～50
驱动速度 J/S mode Y轴(mm/s)	0～50	0～50	0～50	0～50
驱动速度 J/S mode Z2轴(mm/s)	0～50	0～50	0～50	0～50
测定范围 Z1轴表面粗糙度(µm)	800,80,8	800,80,8	800,80,8	800,80,8
分解能 X轴(µm)	0.05	0.05	0.05	0.05
分解能 Z1轴表面粗糙度(µm)	0.01/0.001/0.0001	0.01/0.001/0.0001	0.01/0.001/0.0001	0.01/0.001/0.0001
分解能 Z2轴 (µm)	0.05	0.05	0.05	0.05
测定方向表面粗さ	引方向	引方向	引方向	引方向
测定面方向表面粗さ	下方向	下方向	下方向	下方向
驱动速度 CNC模式 X轴(mm/s)	最大200	最大200	最大200	最大200
测定范围 Z1轴轮廓形状(mm)	60（水平状态±30）	60（水平状态±30）	60（水平状态±30）	60（水平状态±30）
驱动范围 Z2轴(mm)	300	300	500	500
测定方向轮廓形状	推拉双向	推拉双向	推拉双向	推拉双向
测定面方向轮廓形状	上下両方向	上下両方向	上下両方向	上下両方向
分解能 Z1轴标准(µm)	0.02	0.02	0.02	0.02
分解能 Z1轴非接触(µm)	25	25	25	25
驱动速度 CNC模式 Y轴(mm/s)	最大200	最大200	最大200	最大200
驱动速度 CNC模式 Z2轴 (mm/s)	最大200	最大200	最大200	最大200
X轴测量速度(mm/s)	0.02~2	0.02~2	0.02~2	0.02~2
笔尖形状表面粗糙度	60°, R2 µm	60°, R2µm	60°, R2 µm	60°, R2 µm
笔尖形状轮廓形状	圆锥30°	圆锥30°	圆锥30°	圆锥30°
真直精度 X轴表面粗糙度	0.5 微米/200 毫米	0.5微米/200毫米	0.5 微米/200 毫米	0.5 微米/200 毫米
真直精度 X轴非接触	0.5 微米/200 毫米	0.5微米/200毫米	0.5 微米/200 毫米	0.5 微米/200 毫米
真直精度 Y轴表面粗糙度	0.5 微米/200 毫米	0.5微米/200毫米	0.5 微米/200 毫米	0.5 微米/200 毫米
真直精度 X轴轮廓形状	2 微米/200 毫米	2μm/200mm	2 微米/200 毫米	2 微米/200 毫米
真直精度 Y轴轮廓形状	2 微米/200 毫米	2μm/200mm	2 微米/200 毫米	2 微米/200 毫米
指示精度 X轴轮廓形状	±(0.8＋4L/200) μm L：测定长度(mm)	±(0.8＋4L/200)μm L：测定长度(mm)	±(0.8＋4L/200) μm　L：测定长度(mm)	±(0.8＋4L/200) μm　 L：测定长度(mm)
指示精度 Y轴	±(2+2L/100) μm L：任意2点间尺寸(mm)	±(2+2L/100)μm L:任意2点间尺寸(mm)	±(2+2L/100) μm　L：任意2点间尺寸(mm)	±(2+2L/100) μm　L：任意2点间尺寸(mm)
指示精度 Z1轴轮廓形状	±(0.8＋\|2H\| /100) μm H：水平位置からの測定高さ(mm)	±(0.8＋\|2H\| /100)μm　H：水平位置からの測定高さ(mm)	±(0.8＋\|2H\| /100) μm　H：水平位置からの測定高さ(mm)	±(0.8＋\|2H\| /100) μm　H：水平位置からの測定高さ(mm)
指示精度 Z2轴	α轴无机种　±(1.5+10H/1000) μm H：Z2轴测量高度(mm)	α轴无机种　±(1.5+10H/1000)μm　H： Z2轴测量高度（mm）	α轴无机种　±(1.5+10H/1000) μm　H：Z2轴测量高度(mm)	α轴无机种　±(1.5+10H/1000) μm　H：Z2轴测量高度(mm)
测定力表面粗糙度(mN)	0.75	0.75	0.75	0.75
测长单元 X轴	反射型线性编码器	反射型线性编码器	反射型线性编码器	反射型线性编码器
测长单元 Y轴	反射型线性编码器	反射型线性编码器	反射型线性编码器	反射型线性编码器
测长单元 Z2轴	反射型线性编码器	反射型线性编码器	反射型线性编码器	反射型线性编码器
最大积载质量 Y轴平台(kg)	20	20	20	20
测长单元 Z1轴	圆弧刻度	圆弧刻度	圆弧刻度	圆弧刻度
笔尖上下移动	圆弧运动	圆弧运动	圆弧运动	圆弧运动
追随角度登り(°)	70	70	70	70
追随角度下行(°)	70	70	70	70
测定力轮廓形状(mN)	10,20,30,40,50	10,20,30,40,50	10,20,30,40,50	10,20,30,40,50
通信接口	通用串行总线	通用串行总线	通用串行总线	通用串行总线
底座材质	汉雷岩	汉雷岩	汉雷岩	汉雷岩
笔尖材质轮廓形状	超硬合金	超硬合金	超硬合金	超硬合金
保存环境温度范围(℃)	-10~50	-10~50	-10~50	-10~50
保存环境湿度范围(非结露)(%RH)	5~90	5~90	5~90	5~90
使用环境温度范围(℃)	15~25	15~25	15~25	15~25
使用环境湿度范围(非结露)(%RH)	20~80	20~80	20~80	20~80
底座尺寸(mm)	750×600	750×600	750×600	750×600
Y轴表格(mm)	200×200	200×200	200×200	200×200
Y轴台质量(kg)	35	35	35	35
遥控盒（mm）	300×143×71	300×143×71	300×143×71	300×143×71
远程盒子质量(kg)	1.5	1.5	1.5	1.5
本体(mm)	800×620×1000（不包括Y轴工作台及减震台）	800×620×1000（不包括Y轴工作台及减震台）	800×620×1200（不包括Y轴工作台及减震台）	800×620×1200（不包括Y轴工作台及减震台）
本体质量(kg)	240	240	250	250
电源	100～120V、200～240V ±10％、AC50/60Hz	100～120 V、200～240 V ±10 ％、交流 50/60 Hz	100～120 V、200～240 V ±10 ％、交流 50/60 Hz	100～120 V、200～240 V ±10 ％、交流 50/60 Hz
消耗电力	500 瓦	500 瓦	500 瓦	500 瓦
倾斜回转速度(rpm)		1		1
倾斜角度分解能(°)		0.000225		0.000225
X轴倾斜角度(°)		-45(逆时针)、+10(顺时针)		-45(逆时针)、+10(顺时针)
α轴部质量(kg)		9		9

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