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    542系列 LGK光栅式测微头细长型日本三丰测微仪

    更新时间：2023-02-23

    型号：542系列 LGK

    浏览量：976

    光栅式测微头细长型日本三丰测微仪 542系列LGK ● 沿袭了LGF的抗振性和抗冲击性的细长型，横截面只有LGF-110L-B的1/5。 ● 每种型号的分辨力可以在0.1μm, 0.5μm或1μm之间选择。 ● 滑动的耐久性可至少使用1500万次以上（三丰测试）。 ● 耐冲击性：100G/11ms （IEC 60068-2-27）。
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