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    542系列 — 光栅式测微仪/测微头(细长型)

    542系列—光栅式测微仪/测微头(细长型) LGK ●沿袭了LGF的抗振性和抗冲击性的细长型,横截面只有LGF-110L-B的1/5。 ●每种型号的分辨力可以在0.1μm,0.5μm或1μm之间选择。 ●滑动的耐久性可至少使用1500万次以上(三丰测试)。 ●耐冲击性:100G/11ms(IEC60068-2-27)。

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