日本三丰542系列光栅式测微仪测微头细长型

日本三丰542系列光栅式测微仪测微头细长型 LGK ● 沿袭了LGF的抗振性和抗冲击性的细长型，横截面只有LGF-110L-B的1/5。 ● 每种型号的分辨力可以在0.1μm, 0.5μm或1μm之间选择。 ● 滑动的耐久性可至少使用1500万次以上（三丰测试）。 ● 耐冲击性：100G/11ms （IEC 60068-2-27）。