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    日本三丰542系列光栅式测微仪测微头细长型 LGK ● 沿袭了LGF的抗振性和抗冲击性的细长型,横截面只有LGF-110L-B的1/5。 ● 每种型号的分辨力可以在0.1μm, 0.5μm或1μm之间选择。 ● 滑动的耐久性可至少使用1500万次以上(三丰测试)。 ● 耐冲击性:100G/11ms (IEC 60068-2-27)。

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