表面粗糙度测量装置错误与缺点
更新时间：2018-09-26 点击次数：2203
表面粗糙度测量装置错误与缺点
表面粗糙度测量装置粗糙度参数基于粗糙度轮廓来评估，粗糙度轮廓是通过使用轮廓滤波器来抑制原始轮廓的长波分量而获得的。它是偏离平均线的轮廓的算术平均值，并以采样长度定义。
影响滤波数据的因素如下：
1、采样长度和评估长度的选择：采样长度用于确定具有表面粗糙度特征的参考线的长度。评估的长度是评估粗糙度时必须采用的函数。
反映加工表面粗糙度的小长度。
2、滤波器的高通和低通采样长度和带宽比的选择对测量结果也有非常重要的影响。采样波长是测量表面形貌时仪器响应的表面特征（表面波长）之间的长距离，表面粗糙度测量装置其范围通常为0.08mm~8mm。
主要缺点如下：
1）测量参数较少，一般只能测量少量参数如Ra，Rz，Ry;
2）测量精度较低，测量范围小，Ra值范围一般在0.02~10 m左右;
3）测量方法不灵活，如选择评估长度，滤波器选择;
4）测量参数;数据处理速度慢，输出不直观。
表面粗糙度测量装置造成这些缺点的主要原因是：系统可靠性不高，模拟信号误差大，处理不方便，计算机数据处理能力弱，算法不够简单有效。
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