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涂层测厚仪的选型
点击次数:348 发布时间:2021-01-20

选型方法

 

用户可以根据测量的需要选用不同的测厚仪,磁性测厚仪和涡流测厚仪一般测量的厚度适用0-5毫米,这类仪器又分探头与主机一体型,探头与主机分离型,前者操作便捷,后者适用于测非平面的外形。更厚的致密材质材料要用超声波测厚仪来测,测量的厚度可以达到0.7-250毫米。电解法测厚仪适合测量很细的线上面电镀的金、银等金属的厚度。
 

集合了磁性测厚仪和涡流测厚仪两种仪器的功能,可用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度。如:

* 钢铁上的铜、铬、锌等电镀层或油漆、涂料、搪瓷等涂层厚度。
* 铝、镁材料上阳极氧化膜的厚度。
* 铜、铝、镁、锌等非铁金属材料上的涂层厚度。
* 铝、铜、金等箔带材及纸张、塑料膜的厚度。
* 各种钢铁及非铁金属材料上热喷涂层的厚度。
 

仪器特点

采用双功能内置式探头,自动识别铁基或非铁基体材料,并选择相应的测量方式进行测量。
符合人体工程学设计的双显示屏结构,可以在任何测量位置读取测量数据。
采用手机菜单式功能选择方式,操作十分简便。
可设定上下限值,测量结果超出或符合上下限数值时,仪器会发出相应的声音或闪烁灯提示。
稳定性很高,通常不必校正便可长期使用。
技术规格
量 程: 0~2000μm ,
电 源: 两节5号电池
标准配置

常规型

对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关国家和标准中称为覆层(coating)。
覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的*手段。
覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行。
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